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Journal Of Electronic Testing-theory And Applications期刊
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Journal Of Electronic Testing-theory And Applications

SCIE

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》创刊于1990年，是一本工程技术国际学术期刊，出版语言为English，年发文量43。预计审稿周期约 较慢,6-12周 ，近三年曾被列入预警期刊名单。

中科院 4区
JCR Q4
Citescore 2
TOP期刊 否
ISSN: 0923-8174
出版地区: UNITED STATES
E-ISSN: 1573-0727
出版周期: Bimonthly
出版商: Springer US
创刊时间: 1990年
国际简称: J ELECTRON TEST
出版语言: English
研究方向: 工程：电子与电气-工程技术
中文名称: 电子测试理论与应用杂志

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications杂志简介

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》由Springer US出版社出版，是工程：电子与电气领域的国际权威期刊。自1990年创刊以来，该刊始终致力于发表工程技术领域的原创性、前瞻性研究成果，尤其关注工程技术领域的理论、政策与实践。该刊被SCIE数据库收录，在JCR学科，按JIF指标学科分区学科“ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC”中位于Q4区；按JCI指标学科分区学科“ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC”中位于Q4区；中国科学院期刊分区为大类工程技术4区，小类工程：电子与电气4区。此外，在CiteScore学科分类中，该刊在“Electrical and Electronic Engineering”小类中位列Q3区，排名495 / 797，显示出在工程：电子与电气领域的突出影响力。

作为一本非开放获取期刊，《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》2023年发文量在43篇，研究类论文占比为100.00%。期刊最新影响因子为1.1 ，CiteScore为2，学术影响力持续稳健。该刊面向全球研究者，为探讨工程：电子与电气领域提供了高水平的学术交流平台。

WOS期刊JCR分区（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 278 / 352

21.2%
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 293 / 354

17.37%

CiteScore（2025年最新版）

CiteScore数据趋势图

  • CiteScore：2
  • SJR：0.271
  • SNIP：0.518
学科 分区 排名 百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering Q3 495 / 797

37%

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications中国科学院期刊分区

中国科学院期刊分区趋势图

中国科学院期刊分区 （2023年12月升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区
否 否

中国科学院期刊分区 （2022年12月升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区
否 否

中国科学院期刊分区 （2021年12月旧的升级版）

大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术
4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区
否 否

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications高引用文章

  • Machine Learning for Hardware Security: Opportunities and Risks

    引用次数：10

  • Security Analysis of the Efficient Chaos Pseudo-random Number Generator Applied to Video Encryption

    引用次数：6

  • Single Event Transient Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits

    引用次数：5

  • Test and Reliability in Approximate Computing

    引用次数：5

  • An Extensible Code for Correcting Multiple Cell Upset in Memory Arrays

    引用次数：4

  • Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs

    引用次数：3

  • Hardware Trojan Detection Using an Advised Genetic Algorithm Based Logic Testing

    引用次数：3

  • Test Generation for Bridging Faults in Reversible Circuits Using Path-Level Expressions

    引用次数：3

  • A Low-Cost Test Solution for Reliable Communication in Networks-on-Chip

    引用次数：3

  • The Fundamental Primitives with Fault-Tolerance in Quantum-Dot Cellular Automata

    引用次数：3

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications学术指标

年份 影响因子 年发文量 引文指标 自引率 CiteScore
2023 1.1 - 43 - 0.23 - 18.2 - 2 -
2022 0.9 - 46 - 0.21 - 11.1 - 1.9 -
2021 0.795 - 47 - 0.23 - 18.2 - 1.8 -
2020 0.88 - 55 - - 10.7 - 1.8 -
2019 0.596 - 62 - - 15.3 - 1.6 -
2018 0.625 - 54 - - 14.2 - 1.5 -
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